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本文作者: Penny | 2014-11-05 11:11 |
昨日有不少报道指出,一些用户的128G版iPhone 6 Plus频繁死机,分析原因可能是TLC NAND存储器控制IC的缺陷,尽管128GB的容量更大,但是读写的速度比较慢。因此iPhone 6 Plus可能会被大规模召回。
但据最新消息显示,“召回”事件并不存在。事实上,确实有iPhone 6 Plus出现了崩溃,但只是少数。截至目前,苹果官方论坛上关于iPhone 6 Plus崩溃的帖子共有177个回复,且不排除这些回复中有很多出自同一人的可能性。另外,这些“中招”的用户通常都安装了500至1000个应用,因此,推测该问题与闪存有关未必准确,而因该问题被召回的说法也完全是空穴来风。
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